15814199301
產品簡介
非接觸光學測厚儀是一款基于光譜共焦成像技術的測量設備，專為微米級精密檢測需求設計。該設備通過寬光譜LED光源發射復色光，經色散透鏡聚焦形成連續波長焦點，精準捕捉物體表面反射的共焦波長信號，結合高速光譜分析算法，實現單點最高10kHz的采樣頻率與0.1μm的超高分辨率。設備設備采用天然花崗巖平臺和隱藏式倒放探頭，提供穩定的測量基準以及減少放樣障礙，支持透明/非透明材料單層或多層厚度（如涂層+基材
產品簡介
非接觸光學測厚儀是一款基于光譜共焦成像技術的測量設備，專為微米級精密檢測需求設計。該設備通過寬光譜LED光源發射復色光，經色散透鏡聚焦形成連續波長焦點，精準捕捉物體表面反射的共焦波長信號，結合高速光譜分析算法，實現單點最高10kHz的采樣頻率與0.1μm的超高分辨率。設備設備采用天然花崗巖平臺和隱藏式倒放探頭，提供穩定的測量基準以及減少放樣障礙，支持透明/非透明材料單層或多層厚度（如涂層+基材）的同步無損檢測，應用于光學玻璃制造領域.
產品特點
1、寬量程（ ±2000μm），高分辨率 (100納米)，線性誤差 < ±0.8 μm
2、無接觸被測物表面，避免了劃傷、壓痕或應力影響
3、內嵌倒置探頭，防止探頭影響放樣路徑
4、測量速度快(每秒10000點)，適合動態過程監控
5、支持多層厚度測量
6、靈活的觸發模式（手動、實時）
7、數據帶序列號（可掃碼槍匹配）
8、支持數據上下限管理（合格判定）
9、實時可視化（厚度值、表格、譜圖）
10、便捷的數據導出（TXT, EXCEL, HTML）
產品參數
非接觸光學測厚儀 | |
基本參數 | |
工作距離 | 38mm |
量程 | ±2000μm |
分辨率 | 0.1μm |
線性誤差 | ＜±0.8μm |
溫度特性 | <±0.03% F.S |
最小厚度 | 5% of F.S.(F.S.=4000um） |
測量角度范圍 | ±21°（支持微曲面測量） |
測量速度 | 最高10kHz（單點） |
探頭參數 | |
光源類型 | 高亮度LED寬光譜光源 |
光斑直徑 | Φ16μm/Φ32μm/Φ256μm |
連接方式 | FC/PC接口光纖 |
尺寸（外徑*長度） | Φ36*126.1mm |
工作環境 | |
工作溫度 | 0°C~50°C |
存儲溫度 | -20°C~70°C |
防護等級 | IP40（標準） |
抗干擾能力 | 不受環境光、表面傾斜（±21°內）影響 |
濕度范圍 | 20%~85% RH |
工作平臺 | |
探頭調節 | 工作面以下，0-50mm升降 |
平臺材質 | 天然花崗石 |
尺寸 | 600mm*600mm*50mm |
硬度 | 莫氏硬度6-7級 |
線膨脹系數 | 4.6×10??/℃ |
耐腐蝕性 | 耐酸、堿、磁化，不生銹，無需涂油維護 |
粗糙度 | 工作面Ra 0.32-0.63μm |
抗損傷性 | 碰撞僅產生凹坑，無凸起毛刺，不影響測量精度 |
設備整體 | |
空間尺寸 | 600mm*600mm*1575mm |
平臺高度 | 930mm |
電源 | 220AC 50/60HZ |
功率 | 80W |
軟件功能 | |
觸發模式 | 手動觸發、實時觸發 |
序列號 | 測試數據匹配序列號（可配掃碼槍） |
數據范圍 | 支持數據上下限管理 |
可視化 | 實時厚度、數據表格、變化譜圖 |
數據導出 | TXT、EXCEL、HTML |
多層測量 | 支持透明材料多層厚度同步檢測（如涂層+基材） |
拓展功能 | MES、RS485通信（可定制） |
當前位置：
上一個：
返回列表
接觸角測量儀
